Hanwa Electric Products
阪和電子工業(yè)株式會社創(chuàng)始于1966年，上世紀80年代開始自主研發(fā)半導體領域所使用的的相關測試設備。
(ESD: Electronic Static Discharge)靜電破壞測試機最初研發(fā)時只有256pin，現(xiàn)在根據(jù)客戶的需求甚至可以做到1024pin，滿足更高階的晶圓硅片測試需求。
此外，阪和電子還向解析裝置擴展，研發(fā)出了具備多功能檢測、ESD保護電路回路等機能的TLP（Transmission Line Pulse）測試裝置。
隨著公司的發(fā)展，不光受到日本本土企業(yè)的青睞，更是在全球市場上，得到了海外客戶的一致認可。
近年來，隨著靜電可視化需求的擴大，阪和電子的靜電可視化設備也已經(jīng)登上了新的舞臺。
靜電破壞自動測定裝置
HED-G5000
設備名:
靜電破壞檢測機
說明:
HANWA新一代G5000系列ESD靜電破壞檢測機隆重登場。 搭載多Pin腳無繼電器的GNC模組（最高支持MAX2048pin），完全不受【寄生電容】的影響，實現(xiàn)高精度檢測。
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HED-S5000
設備名:
全自動靜電放電檢測設備
說明:
此設備是符合日本及國際標準的高可靠性設備 （滿足JEITA / ESDA / JEDEC規(guī)格）可用于閂鎖測試，并適用脈沖電 流法·電源過電壓·ESD脈沖印加法
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HED-N5000
設備名:
多管腳高性能全自動靜電放電測試機
說明:
最大可進行8個器件的測試。最大測試管腳數(shù)1024Pin 雖然有一定的限制，但是可以復數(shù)同時印加 是滿足日本、國際規(guī)格的高可靠性設備 (滿足JEITA/ESDA/JEDEC規(guī)格) 可用于閂鎖測試，并適用脈沖電流法·電源過電壓·ESD印加法 也可通過DC測試判斷pass/fail，以及作為可添加選項，可以利用向量來進行功能測試
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Wafer ESD試験器
HED-W5000
設備名:
全自動 Wafer ESD測試機
說明:
從LED到系統(tǒng)LSI的大口徑Wafer，可適用于HBM和MM的放電 ESD印加后，可根據(jù)漏電流測試判斷pass/fail 并且可以與ESD測試有關聯(lián)性的TLP測試設備進行組合測試 對ESD測試中發(fā)生問題的器件，能有效取得保護電路中的工作參數(shù) 是滿足日本、國際標準的高可靠性設備。（滿足JEITA/ESDA/JEDEC規(guī)格）
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CDM實驗器
HED-C5000
設備名:
（不同電位物質時）接觸破壞性檢測設備
說明:
此設備是符合日本及國際標準的高可靠性設備 （滿足JEITA / ESDA / JEDEC規(guī)格）可通過交換放電電路組 件支持日本國內(nèi)及國際的測試規(guī)格 可測量器件的各個端子的容量,測試數(shù)據(jù)可保存為文本文件形式
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靜電氣可視化監(jiān)視器
HSK-5008L
設備名:
手持式靜電成像系統(tǒng)
說明:
裝有8個線性傳感器，能夠輕松地確認到靜電的帶電狀態(tài) 與PC連接，可以使用專用轉件對靜電帶電狀態(tài)進行確認
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HSK-V5000B
設備名:
在線安裝型條狀靜電成像系統(tǒng)
說明:
可安裝于測試對象物的附近，實時監(jiān)測以面為單位的帶電量，并且可以瞬間撲捉到大面積的帶電情況比如，對于薄膜、液晶屏、制紙等制造領，可根據(jù)客戶需求選擇測量范圍、傳感器數(shù)量
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